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V Escuela de Cristalografía y Difracción de rayos X

Plan de estudio 2022

Institución Hospedadora

Universidad Técnica Federico Santa María.

Ubicación

Departamento de Ingeniería Metalúrgica y Materiales, ubicado en Av. España 1680, Valparaíso, Chile.

Objetivo

Orientar a los estudiantes en la caracterización microestructural de materiales, utilizando la técnica de difracción de rayos X (XRD) y el refinamiento de patrones de difracción utilizando el método de Rietveld.

Fecha de Realización

18 - 22 de Julio del 2022

Metodología de Enseñanza y Aprendizaje

  1. Las clases se realizarán de forma expositiva vía internet.

  2. Planteamiento y resolución de problemas tipo.

  3. Fomentar la colaboración y autoaprendizaje.

  4. Se desarrollará una sesión de ensayos de laboratorio de rayos X para la comprobación del conocimiento empírico (de forma virtual).

Recursos de Aprendizaje

  1. Se utilizará como principales herramientas los softwares: Visualization for Electronic and STructural Analysis (VESTA, https://jp-minerals.org/vesta/en/ ) y Materials Analysis Using Diffraction (MAUD, http://maud.radiographema.eu/ ).

  2. Videos e imágenes animadas, que describan la preparación de muestras para análisis de difracción de rayos X.

  3. Se proporcionarán patrones de difracción, con el objetivo de utilizar el método Rietveld con el sofware MAUD.

Actividad Complementaria

Programa de Actividades

  1. Al finalizar el curso, se pedirá a cada participante, que mediante el conocimiento adquirido refinen el patrón instrumntal utilizando el software MAUD.

Programa de Actividades.tif

Expositores

MSc. Edgar I. Pio Lopez
USACH, Chile

Dr. Miguel Delgado
ULA, Venezuela

Dra. Graciela Díaz de Delgado
ULA, Venezuela

Dr. Claudio Aguilar Ramírez 
UTFSM, Chile

Comité Organizador

  • Victor Jimenez Arevalo (Moderador) - Universidad de Santiago de Chile

  • Claudio Madrid Cortés - Universidad Técnica Federico Santa María

  • Matías Arenas Manríquez - Universidad Técnica Federico Santa María

Contacto y más información

  • Matías Arenas Manríquez

  • Departamento de Ingeniería Metalúrgica y Materiales, Universidad Técnica Federico Santa María, Valparaíso, Chile.

  • rpm.utfsm@gmail.com

 

Inscripciones

Resultados de incripción y becas

El comité organizador de la V Esscuela de Cristalografía y Difracción de rayos X le comunica a todos los estudiantes y académicos, en modalidad online, los resultados finales de la inscripción y postulación a becas.

Las personas que  presenten problemas para realizar el pago de la inscripción antes del 18/07/2022, por favor contactarse con la organización del evento hasta el día 17/07/2022 al correo electronico: rpm.utfsm@gmail.com.

Cuota de Inscripción

  • Profesionales: US$ 120

  • Estudiante de Postgrado: US$ 80

  • Estudiante de Pregrado: US$ 40

    • Becas de hasta un 100%: Esto dependerá de los argumentos entregados en el formulario de inscripción online.​

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