V Escuela de Cristalografía y Difracción de rayos X
Plan de estudio 2022
Institución Hospedadora
Universidad Técnica Federico Santa María.
Ubicación
Departamento de Ingeniería Metalúrgica y Materiales, ubicado en Av. España 1680, Valparaíso, Chile.
Objetivo
Orientar a los estudiantes en la caracterización microestructural de materiales, utilizando la técnica de difracción de rayos X (XRD) y el refinamiento de patrones de difracción utilizando el método de Rietveld.
Fecha de Realización
18 - 22 de Julio del 2022
Metodología de Enseñanza y Aprendizaje
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Las clases se realizarán de forma expositiva vía internet.
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Planteamiento y resolución de problemas tipo.
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Fomentar la colaboración y autoaprendizaje.
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Se desarrollará una sesión de ensayos de laboratorio de rayos X para la comprobación del conocimiento empírico (de forma virtual).
Recursos de Aprendizaje
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Se utilizará como principales herramientas los softwares: Visualization for Electronic and STructural Analysis (VESTA, https://jp-minerals.org/vesta/en/ ) y Materials Analysis Using Diffraction (MAUD, http://maud.radiographema.eu/ ).
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Videos e imágenes animadas, que describan la preparación de muestras para análisis de difracción de rayos X.
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Se proporcionarán patrones de difracción, con el objetivo de utilizar el método Rietveld con el sofware MAUD.
Actividad Complementaria
Programa de Actividades
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Al finalizar el curso, se pedirá a cada participante, que mediante el conocimiento adquirido refinen el patrón instrumntal utilizando el software MAUD.
Expositores
MSc. Edgar I. Pio Lopez
USACH, Chile
Dr. Miguel Delgado
ULA, Venezuela
Dra. Graciela Díaz de Delgado
ULA, Venezuela
Dr. Claudio Aguilar Ramírez
UTFSM, Chile
Comité Organizador
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Victor Jimenez Arevalo (Moderador) - Universidad de Santiago de Chile
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Claudio Madrid Cortés - Universidad Técnica Federico Santa María
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Matías Arenas Manríquez - Universidad Técnica Federico Santa María
Contacto y más información
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Matías Arenas Manríquez
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Departamento de Ingeniería Metalúrgica y Materiales, Universidad Técnica Federico Santa María, Valparaíso, Chile.
Inscripciones
Resultados de incripción y becas
El comité organizador de la V Esscuela de Cristalografía y Difracción de rayos X le comunica a todos los estudiantes y académicos, en modalidad online, los resultados finales de la inscripción y postulación a becas.
Las personas que presenten problemas para realizar el pago de la inscripción antes del 18/07/2022, por favor contactarse con la organización del evento hasta el día 17/07/2022 al correo electronico: rpm.utfsm@gmail.com.
Cuota de Inscripción
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Profesionales: US$ 120
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Estudiante de Postgrado: US$ 80
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Estudiante de Pregrado: US$ 40
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Becas de hasta un 100%: Esto dependerá de los argumentos entregados en el formulario de inscripción online.
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